以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:()

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以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:()

  • A: 当量相同
  • B: 铸件中的大
  • C: 锻件中的大
  • D: 上述都不对

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