超声波试验系统分辨底面回波与靠近底面的小缺陷回波的能力()
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超声波试验系统分辨底面回波与靠近底面的小缺陷回波的能力()
- A: 主要取决于仪器发射的脉冲持续时间
- B: 与被探工件的底面粗糙度无关
- C: 主要取决于被检零件的厚度
- D: 用直径较大的探头可以得到改善
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